关键词：pxi技术 性能应用 技术创新 instruments 论坛 

摘要：2015年5月26日-由美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）主办的第十二届“中国PXI技术和应用论坛”（PXI Technology ＆ Application Conference，即PXITAC）北京站会议圆满闭幕。在今年的PXITAC会议上，NI展示了PXI最新的技术发展以及应用案例，推出了业界首款基于PCle第三代技术的PXI嵌入式控制器和高带宽PXI机箱，大幅推动了PXI技术的进步和PXI在高性能应用场合中的广泛应用。 NI始终致力于为工程师和科学家提供解决方案来应对全球最严峻的工程挑战，在本次PXITAC会议上，NI详细介绍了基于Intel Xeon处理器的NIPXIe-8880控制器和业界首款采用第三代PCI Ex-press技术的NI PXIe-1085机箱。

电子测量与仪器学报杂志要求:

{1}文题:力求简明、醒目、中文字数一般不超过20个字。

{2}来稿须未公开发表，不接受一稿多投。

{3}稿件要求观点明确、立论新颖、论据可靠、语言规范通达，且未在国内外公开发表过。

{4}文字必须干净、灵性，拒绝平铺直叙，反对概念化和古板的构架。投稿请用宋体、题目小二号、正文小四号，附作者简介、地址、电话，或所载刊物名、网址。

{5}“作者简介”置于首页脚注处；基金项目请在文章首页脚注处写明项目来源和课题编号。

注：因版权方要求，不能公开全文，如需全文，请咨询杂志社