集成电路测试机的挑战与趋势

迎九 《电子产品世界》; 北京100036

关键词:集成电路 测试 微调 trim 

摘要:介绍了集成电路测试机(ATE)面临的挑战与解决方案。

电子产品世界杂志要求:

{1}摘要应阐述文章的目的、方法、结果和结论等,篇幅一般为200-300字。关键词一般选取3-5个即可,以反映论文的本质、特征为出发点。

{2}学术内容:应具有真实性、科学性、导向性、实用性、创新性。

{3}来稿应反映法学研究领域的最新发展与水平,论点明确、论据充分、数据可靠、条理清晰、题文相符、文字简明,具有一定的科学性、实用性、可读性。

{4}参考文献必须是作者亲自阅读过的发表在正式出版物的文献,文章应附参考文献,建议为5-10条。

{5}摘要只需简明、准确地概述论文内容即可,不要增加注释和评价性文字,以150-200字为宜。

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

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