大面积芯片/DBC基板自蔓延互连热应力场研究

向语嫣; 周政; 张峻; 刘辉; 周龙早; 吴丰顺 华中科技大学; 湖北武汉430074; 北京卫星制造厂; 北京100094

关键词:自蔓延互连 热应力场 有限元模拟 

摘要:与传统整体加热的大面积芯片/DBC基板焊料互连方法相比,使用自蔓延薄膜为局部热源的焊料互连方法有加热迅速、热影响区小和热量集中等特点。主要采用有限元模拟的方法,对大面积芯片/DBC基板自蔓延互连过程中的热应力场进行分析,得到了不同时刻互连结构的翘曲变化,研究了压力对互连结构残余应力的影响规律。

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