GE检测控制技术亮相第22届多国仪器仪表学术会议暨展览会

关键词:控制技术 无损检测 学术会议 仪器仪表 展览会 

摘要:第22届多国仪器仪表学术会议暨展览会(MICONEX2011)于2011年8月30-9月2日在北京中国国际展览中心(老馆)隆重召开。GE检测控制技术在本届展会上再次闪亮登场,展示GE在传感技术,测量、无损检测、状态监测和自动化控制领域的优秀产品和领先技术。

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