是德科技最新PCl Express设计和测试解决方案亮相PCI-SIG开发者大会

关键词:测试解决方案 express 开发者 科技 设计 

摘要:是德科技公司近日宣布,在美国加州圣克拉拉会展中心举办的PCI—SIG2015年开发者大会上,展示了其PCIExpress(PCIe)解决方案。本次开发者大会上,是德科技展出众多解决方案,包括PCIeHotTDR测量、物理层测试系统(PLTS)、PCIe/NVMe协议测试、PCIe发射机和接收机测试、PCIe和USB设计仿真工具。是德科技展出了超过25种硬件和软件产品,旨在帮助工程师应对当前和未来的设计与测量挑战。

计算机测量与控制杂志要求:

{1}所有引文均需核实无误,文献版本应信实可靠。

{2}凡投递本刊的稿件,若在三个月内未被采用,可将稿件另行处理。

{3}根据《中华人民共和国著作权法》等相关法律法规规定,稿件文责自负。

{4}论文题目应简洁、准确,不宜使用缩略词,限定在25个汉字内。

{5}附页。内容依次为:中文标题、中文摘要、作者姓名、工作单位、详细通信地址、邮编、手机号、电子邮箱。

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

计算机测量与控制

统计源期刊
1-3个月下单

关注 10人评论|1人关注
相关期刊
服务与支付