关键词：电子探针 羟硅铍石 铍矿物 射线衍射分析 背散射电子像 

摘要：本文通过电子探针分析仪和微区X射线衍射仪的联合应用,建立了在电子探针分析仪上通过背散射电子像亮度,Si、O能谱峰强度比鉴别疑似羟硅铍石的标志,快速确定衍射分析位置,进而利用微区X射线衍射仪在光片上进行原位无损分析,最终确定该矿床矿石中工业铍矿物以独立矿物羟硅铍石存在。1矿石工业铍矿物的电子探针研究从已破碎的混合矿石中随机选取样品用环氧树脂粘结后磨制成光块数片,表面镀碳后供电子探针研

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